Kurabo钝化膜测厚仪测量精度要求由哪些？

　　Kurabo钝化膜测厚仪测量精度要求由哪些？

　　涂层厚度是检验涂层质量的重要指标之一，为了不破坏涂层表面性能，准确的评定涂层厚度，就可以采用各种无损检测方法来进行测量。本文就给大家带来常用的无损涂层测厚技术以及不同Kurabo钝化膜测厚仪测量精度，感兴趣的朋友不妨来看看吧！

　　Kurabo钝化膜测厚仪精度要求：

　　影响Kurabo钝化膜测厚仪测量值精度的因素主要就有以下几点：

　　1、基体金属磁性质。

　　磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准，也可用待涂覆试件进行校准。

　　2、基体金属电性质。

　　基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

　　3、基体金属厚度。

　　每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度，大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。

　　4、边缘效应。

　　仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此，在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

　　5、曲率。

　　试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

　　6、试件的变形。

　　侧头会使软覆盖层试件变形，因此，在这些试件上测出的数据不可靠。

　　7、表面粗糙度。

　　基体金属和覆盖层的表面粗糙度对测量有影响。粗糙程度越大，影响越大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解出去覆盖层后，再校对仪器的零点。

　　8、周围磁场。

　　周围各种电器设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。

　　9、测头压力。

　　测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。

　　10、测头的取向。

　　测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直，这是使用仪器时应当遵守的规定。

　　11、读数次数。

　　通常由于仪器的每次读数并不*相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积进行多次测量，表面粗糙时更应如此。

　　12、表面清洁度。

　　测量前，应清楚表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。