钝化膜测厚仪的校准你知道怎么进行吗

　　钝化膜测厚仪在使用一段时间过后，或多或少都会出现系统误差，而这个系统统误差却是可以通过校准来减少。测量仪器的校准，对于测量结果有着绝大的影响力，为此，必须要通过专业的校准工具进行校准。

　　钝化膜测厚仪的校准方法：

　　利用标准检验片来对膜厚测量仪进行校正，先是把带有一个标准数值的标准片放在零板上，测量标准片。按照平常操作仪器的方法正常使用测厚仪，观看仪器屏幕上的数值。一般来说，发现数值是与标准片上所标数值一致，或者是误差是在正负1微米的，仪器都是可以正常使用的。否则，就是不正常。对于不正常的仪器，则需要利用仪器的调零按钮来进行调整。直到屏幕数据与标准片所标数据一致。

　　钝化膜测厚仪在使用时，摆放在物件的上方，从仪器当中发射了垂直向下的可视光线。其中一部分光会在膜的表面形成一个反射，另一部分则会透过仪器的薄膜，在薄膜与物件之间的界面开成反射，这个时候，薄膜的表面，以及薄膜的底部同时反射的光会造成干涉的现象。仪器便是利用了这样的一种现象，从而测量出物件的厚度。厚度的测量看似简单，实测上所利用的光反射原理，却是需要经过一系列的设计才能达到如此理想状态。如此光学膜厚测量仪的使用，便也有着其它传统测厚仪所没有的优点。