中性盐雾试验箱不同条件对电路板元件试验结果的影响分析

　　中性盐雾试验箱不同条件对电路板元件试验结果的影响分析
 

　　产品的耐盐雾腐蚀试验方法可分成两大类:天然环境暴露试验和人工加速模拟盐雾环境试验。天然环境暴露试验是将样品放在某一典型气候区域,在贮存环境下考察样品的耐盐雾腐蚀性情况。天然环境暴露试验的周期一般很长,需要几年甚至十几年,同时,需要试验人员长期进行检查和记录,所需人力、财力、物力较大。其试验结果也只适用部分地区,在另一些地区则可能不适用。
 

　　人工加速模拟环境试验是利用具有一定容积空间盐雾试验箱,在其容积空间内用人工方法造成盐雾环境,对元器件的耐盐雾腐蚀性能质量进行考核。它弥补了天然环境暴露试验的不足,通过提高盐雾环境中氯化物的浓度,使腐蚀速度大大提高,得出结果的时间也缩短了很多。人工模拟盐雾环境试验,使样品的耐盐雾腐蚀质量不受自然环境条件的影响,因此得到了较快的发展,从单一的氯化钠盐雾试验发展成为多种类型试验。常见的盐雾试验可分为4 类:中性盐雾试验,醋酸盐雾试验,铜加速醋酸盐雾试验,交变盐雾试验。本文主要分析中性盐雾试验各项试验条件对试验结果的影响。
 

　　本次盐雾试验采用美国Q-Lab公司研发的Q-FOG CCT-600盐雾试验箱进行试验，试验方法试验方法采用GJB548 B22005方法1009.2中性盐雾试验的相关规定,试验时间为24h,基本技术参数范围:
 

　　温度25°C～50°C,氯化钠溶液浓度0.5%～5% ,样品摆放角度15°～45°,盐溶液pH值6.5～7.2 ,沉降率(1～2.47) mL/2000px2·h，
 

　　选取80只外观无损伤、不漏气、表面干净、无明显划伤的元器件,平均分成4组,每组20只;每组均采用4种不同的试验条件,每种试验条件使用5只电路。分组试验后的结果按照GJB548B22005方法1009.2中图2(计算腐蚀面积的卡片)给出的各腐蚀面积比例形态进行比对。试验结果如表1到表4
 

　　试验证明，盐雾试验是考核元器件抗盐雾腐蚀能力的重要方法,试验结果的科学性、合理性至关重要。影响盐雾试验结果的因素很多。但是以本次测试使用标准GJB548 B22005为例，只要在整个试验过程中注意准确控制试验温度、氯化钠溶液浓度和pH值、盐雾沉降率、产品摆放角度等关键因素，如试验温度控制在35°C,溶液浓度控制在1%～5% ,pH值控制在6.5～7.2,盐雾沉降率控制在1～1.5mL/80 cm2·h 之间,产品摆放角度为30°,就能保证试验结果的正确性和良好的重现性。