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红外线测厚仪的的影响因素

更新时间:2015-08-04  |  点击率:1681
红外线测厚仪是塑料薄膜双向拉伸行业中的关键设备,正是它的出现保证了双拉生产线产品厚度均匀性。本文主要介绍红外线测厚仪的影响因素

红外线测厚仪主要有主机和探头两部分组成。主机电路包括发射电路、接收电路、计数显示电路三部分,由发射电路产生的高压冲击波激励探头,产生超声发射脉冲波,脉冲波经介质介面反射后被接收电路接收,通过单片机计数处理后,经液晶显示器显示厚度数值,它主要根据声波在试样中的传播速度乘以通过试样的时间的一半而得到试样的厚度。

 影响测量精度的原因
(1) 覆盖层厚度大于25µm时,其误差与覆盖层厚度近似成正比;
(2) 基体金属的电导率对测量有影响,它与基体金属材料成分及热处理方法有关;
(3) 任何一种测厚仪都要求基体金属有一个临界厚度,只有大于这个厚度,测量才不会受基体金属厚度的影响;
(4) 涡流测厚仪对式样测定存在边缘效应,即对靠近式样边缘或内转角处的测量是不可靠的.
(5) 试样的曲率对测量有影响,这种影响将随曲率半径的减小明显地增大;
(6) 基体金属和覆盖层的表面粗糙度影响测量的精度,粗糙度增大,影响增大;
(7) 涡流测厚仪对妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感.因此测量前应清除测头 和覆盖层表面的污物;测量时应使测头与测试表面保持恒压垂直接触.

随着社会的进步、科技的发展,人们的环保意识越来越强。红外线测厚仪由于环保无放射性物质,很好地满足了社会进步的要求。行业发展的需要。目前,子啊薄膜双向拉伸行业内,红外线测厚仪正在取代传统的射线测厚仪,广泛应用于吹塑薄膜,多层薄膜。敷塑薄膜,涤纶薄膜等透明半透明薄膜的厚度的检测与控制。
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