上海凯密特尔购买手持式XRF合金分析仪

    手持式XRF合金分析仪实现产品表面涂镀层厚度测量，包括电镀、化学镀、热喷涂、气相沉积以及其他表面处理技术，其厚度一般为几微米到几毫米。

    镀层厚度和涂布量是衡量涂镀层质量的一项重要指标，若涂镀层太薄，可能满足不了零部件表面性能的要求， 达不到表面处理的目的；若覆层太厚，不仅造成材料的浪费，还会造成涂镀层内应力过大，降低了覆层的结合强度，特别是对零部件配合面的表面处理，要保证零部件表面处理后的尺寸和新品零部件的设计尺寸相一致，以满足产品设计时的配合公差；若覆层厚薄不均，亦会对涂镀层的多种力学物理性能产生不良影响。  

    目前实验室常用涂镀层测量方法仍广泛采用传统的酸浸退法（化学退镀法）来测定涂镀层的厚度或者镀布量，但该方法操作繁琐，工作量大。尤为重要的是酸浸退法（化学退镀法）在退镀层的同时，也可能脱掉基底元素，因而影响到分析结果的准确性，分析测试效率有限，而且也无法进行现场无损分析。

    X 射线荧光分析作为一种*无损的分析技术，除用于均匀样品的定性、定量分析外，还能用于表面状态以及涂镀层的厚度或者镀布量的测定。

    X-MET8000系列手持式X射线荧光镀层测厚仪是依据“JJF1306 -2011X 射线荧光镀层测厚仪校准规范”进行校准，依据DIN ISO 3497 金属镀层：镀层厚度测量-X射线光谱测定法和ASTM B 568（2014）镀层测厚标准分析方法：X射线光谱测定法 等标准方法进行镀层和涂镀量测试的，使用该光谱仪不仅可以实现对产品的涂镀层厚底和涂布量进行现场、实时在线分析，而且还可以对电镀液化学成份及金属材料的牌号、化学成份进行有效现场分析，分析结果准确可靠，能够满足客户现场测试需求。X-MET8000系列亦可以进行提供失效金属材料化学成分分析，可以结合其他的分析手段寻找材料失效原因